Физические методы исследования поверхности твердых тел
Нефедов В. И., Черепин В. Т.
В монографии изложены физические основы двух важнейших методов исследования поверхности твердых тел — рентгеноэлектронной спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Рассмотрены области применения методов: изучение электронных поверхностных состояний, окисление металлов, сплавов, полупроводников, исследование коррозии, адсорбции, катализаторов, адгезии, флотации и других характеристик и процессов, протекающих на поверхности.
Категорії:
Рік:
1983
Видавництво:
Наука
Мова:
russian
Файл:
DJVU, 11.83 MB
IPFS:
,
russian, 1983