Методы контроля технологических процессов в электронике:...

Main
Методы контроля технологических...

Методы контроля технологических процессов в электронике: Методические указания по выполнению лабораторных работ

Сост. СП. Зимин

0 / 0

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Мова:

russian

Сторінки:

66

Файл:

PDF, 519 KB

IPFS:

,

russian0

Читати Онлайн

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась

Можливо вас зацікавить

Перунова — Электрические измерения

Музылева И. В. — Электротехническое и конструкционное материаловедение. Полупроводниковые материалы и их применение

Тимошенко Д.А. — СБОРНИК ЗАДАЧ И КОНТРОЛЬНЫХ ЗАДАНИЙ ПО ДИСЦИПЛИНЕ «ТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ И ПРИБОРЫ»

Ситанов Д.В. — Методы исследования материалов и структур

Брук В.А., Гаршенин В.В., Курносов А.И. — Производство полупроводниковых приборов.

Брук В. — Производство полупроводниковых приборов

Мазель Е. — Планарная технология кремниевых приборов

Курносов А. — Технология производства полупроводниковых приборов

Рыжов Н. М., Васильев В. Р., Герасимов С. А., Елисеев Э. А. — Материалы с особыми магнитными и электрическими свойствами

Бочкарева Л. В. — Физика полупроводников и полупроводниковых приборов

Романовский М.Н. — Интегральные устройства радиоэлектроники. Часть 1. Основные структуры полупроводниковых интегральных схем

Солодуха А. М. — Пзисторы на основе поликристаллического титаната бария. Физико-химические аспекты и применение

Солодуха А. М. — Позисторы на основе поликристаллического титаната бария. Физико-химические аспекты и применение

Гаврилов Р.А., Скворцов А.М. — Технология производства полупроводниковых приборов

Нарайкин, О.С. — Введение в микросистемную технику

Ю.А. Юраков — Получение пористого кремния

Бахратов, А.Р. — Тестовые задачи по технологии микромеханических гироскопов и акселерометров

Ануфриев Л.П., Бордусов С.В. — Технология интегральной электроники

Ануфриев Л.П., Бордусов С.В. и др. — Технология интегральной электроники

Брук В.А., Гаршенин В.В., Курносов А.И. — Производство полупроводниковых приборов

Романовский М.Н. — Интегральные устройства радиоэлектроники. Часть 1. Основные структуры полупроводниковых интегральных схем

Ковтонюк Н.Ф., Концевой Ю.А. — Измерения параметров полупроводниковых материалов

Скоробогатова Л.А., Зубрицкий С.М., Петров А.Л., Семёнов А.Л. — Технологии материалов для микро - и наноэлектроники

Быкадырова Галина Владимировна, Ткачев Александр Юрьевич, Бормонотов Евгений Николаевич, Битюцкая Лариса Александровна — Приборно-технологическое проектирование компонентной базы микро- и наноэлектроники

Быкадорова Галина Владимировна, Ткачев Александр Юрьевич — Практикум по курсу "Проектирование и технология электронной компонентной базы"

Жданова Наталья Владимировна — Микроэлектроника

Тимошенко Д.А. — СБОРНИК ЗАДАЧ И КОНТРОЛЬНЫХ ЗАДАНИЙ ПО ДИСЦИПЛИНЕ «ТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ И ПРИБОРЫ»

Перунова — Электрические измерения

Филяк М. М. — Конструктивно-технологические основы микроэлектроники

Львова — Учетная политика организации: Рабочая тетрадь

Владимирова Л. Н., Бормонтов Е. Н., Петраков В. И. — Определение удельного сопротивления полупроводников четырехзондовым методом

Зимин С. П., Горлачев Е. С., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Материалы электронной техники (80,00 руб.)

Согуренко Александр Дмитриевич — Физика. Электричество и магнетизм (90,00 руб.)

Владимирова Л. Н., Бормонтов Е. Н., Петраков В. И. — Определение типа проводимости полупроводника

Солодуха Александр Майорович — Позисторы на основе поликристаллического титаната бария. Физико-химические аспекты и применение (90,00 руб.)

Ключові фрази

aгентство

пластины

сопротивления

диффузии

контакта

измерения

сопротивление

поверхности

травления

удельного

полупроводниковых

концентрации

ориентации

контактов

образцов

полупроводника

определения

проводимости

дислокаций

определить

диффузия

определение

поверхность

различных

фиолетовый

алюминий

контроля